Atomic Force Microscopy (AFM) - Rasterkraftmikroskopie

Zusammenfassung:

In diesem Versuch werden Sie die theoretischen Grundlagen und Konzepte der AFM kennenlernen und an einem Mikroskop unter Betreuung selbstständig arbeiten.

Ziel ist es zunächst die theoretischen Grundlagen und die daraus entwickelten Konzepte der AFM zu erlernen. Hierzu gehören

• der pinzipielle Aufbau eines AFMs,
• die verschiedenen kurzreichweitigen Kräfte und deren Detektion über eine scharfe Spitze mit Hilfe der Lichtzeiger-Methode.
• die verschiendenen Mess-Modi,
• die Funktion und Wirkungsweise eines Rückkopplungsstellglieds (PID Feedback-Controller)

um dann selbstständig

1. Aufnahmen von verschiedenen nanoskaligen Oberflächen zu machen,
2. Kraft-Abstandskurven aufzunehmen,
3. den Einfluss möglicher Fehlerquellen zu erknennen und zu diskutieren.