Atomic Force Microscopy (AFM) - Rasterkraftmikroskopie
Zusammenfassung:
In diesem Versuch werden Sie die theoretischen Grundlagen und Konzepte der AFM kennenlernen und an einem Mikroskop unter Betreuung selbstständig arbeiten.
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Ziel ist es zunächst die theoretischen Grundlagen und die daraus entwickelten Konzepte der AFM zu erlernen. Hierzu gehören
- der pinzipielle Aufbau eines AFMs,
- die verschiedenen kurzreichweitigen Kräfte und deren Detektion über eine scharfe Spitze mit Hilfe der Lichtzeiger-Methode.
- die verschiendenen Mess-Modi,
- die Funktion und Wirkungsweise eines Rückkopplungsstellglieds (PID Feedback-Controller)
um dann selbstständig
- Aufnahmen von verschiedenen nanoskaligen Oberflächen zu machen,
- Kraft-Abstandskurven aufzunehmen,
- den Einfluss möglicher Fehlerquellen zu erknennen und zu diskutieren.